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一种光纤用四氯化锗中痕量砷的检验方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-745-1160-3082
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01N21/78类
授权状态: 已授权
档案内容: 一种光纤用四氯化锗中痕量砷的检验方法,属于高纯锗材料制备过程中的产品质量检验方法,尤其是一种光纤用四氯化锗中痕量砷的检验方法。采用在盐酸溶液中用过氧化氢在低温下氧化四氯化锗中的痕量砷(Ⅲ)为砷(Ⅴ),然后在低温下蒸发除去四氯化锗基体,蒸干以后再在盐酸溶液中用氯化亚锡把砷(Ⅴ)还原成砷(Ⅲ),再用无砷锌粒将砷(Ⅲ)还原成砷化氢,所生成的砷化氢气体与溴化汞试纸片作用,生成黄棕色的砷化汞斑点,斑点颜色的深浅与砷含量成正比,借此与标准色阶进行比较后得出砷含量。本发明的检验方法,简便易行,不受实验室的条件限制,是一种结果可靠的测量方法,能够确保产品中砷含量检验的准确性和科学性。
附件下载:  (原始资料备查)

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