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金属氧化物半导体场效应管参数测试盒【异议或纠错】

档案编号: CQ-750-3660-2561
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/26类
授权状态: 已授权
档案内容: 本实用新型涉及一种金属氧化物半导体场效应管参数测试盒,包括拨档开关和多个继电器,每个继电器与一个测试参数匹配,每个继电器的触点一端按照匹配的测试参数的接线要求连接图示仪信号端接口的一个接口或测试针接线端的一个接口,触点另一端连接图示仪信号端接口的一个接口或测试针接线端的一个接口;每个继电器的线圈的一端用于连接电源,线圈的另一端供拨档开关选择连接;拨档开关一端接地,拨档开关的另一端用于通过选择连接多个继电器中的其中一个继电器的线圈的另一端而选择测试参数。本实用新型采用拨档开关和继电器配合使用的方式,操作简单、能够在各个参数的测试之间快速切换。设备制作成本低,能通过大电流、实现大功率产品的测试。
附件下载:  (原始资料备查)

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