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检测固态存储装置存储状态的方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-800-6197-1713
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G11C29/12;G11C29/50类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明提供一种检测固态存储装置存储状态的方法。所述方法包含以下步骤:施加多个感测电压至各个记忆单元;比对各个记忆单元的临界电压与多个感测电压,并据以定义存储状态,多个存储状态依记忆单元落在强正确区、弱正确区、强错误区或弱错误区来分类;计算在每一存储状态的记忆单元数量;计算强正确区的多个记忆单元数量,占强正确区与弱正确区总和的多个记忆单元数量的强正确比例;计算强错误区的多个记忆单元数量,占强错误区与弱错误区总和的多个记忆单元数量的强错误比例;以及基于强正确比例及强错误比例,产生对数概度比。
附件下载:  (原始资料备查)

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