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专利信息

一种半导体激光器的测试和老化装置及方法【异议或纠错】

档案编号： CQ-017-5424-8582
档案文号：
专利权人： 申请人 
发布时间： 发布时间 
档案分类： 专利权 
分 类 号： 第G01R31/26类
授权状态： 已授权
档案内容： 一种半导体激光器的测试和老化装置,包括测试部和器件待测部；测试部包括有弹簧片、驱动弹簧片上下位移的固定块；弹簧片包括有开口回形弯曲段和L形测试段；在L形测试段的末端连接有绝缘块；在绝缘块上设置有两个彼此绝缘的弹簧针,分别将激光器COS或器件的正、负极接出；固定块包括C形开口,弹簧片的开口回形弯曲段设置在所述C形开口内,并通过贯穿于C形开口的螺钉对开口回形弯曲段挤压或释放,实现所述L形测试段与器件待测部之间的距离调节。本发明可实现对半导体激光器COS或器件的快速测试、分选及批量测试,也可在半导体激光器COS或器件的老化过程中实时的对各类参数进行检测,避免将不良品组装成器件导致的成本上升和原材料浪费。
附件下载：  (原始资料备查)

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