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边界扫描测试方法及存储介质【异议或纠错】

档案编号: CQ-165-5593-1559
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/3185类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明提供一种边界扫描测试方法,用于测试与用户逻辑有直连通路的PAD的连通性,包括以下步骤:配置FPGA进入测试模式;通过所述用户逻辑生成用于边界扫描测试的边界扫描链;载入边界扫描测试指令到所述FPGA,载入PRELOAD指令到待测PAD连通性的器件;通过TDI端口发送第一测试矢量到所述待测PAD;进行边界扫描测试,载入EXTEST指令到所述待测PAD连通的器件;从TDO端口移出第一响应数据,进行响应分析和故障诊断。通过在FPGA用户逻辑里面对待测PAD进行软件设置,即可根据设置对待测PAD进行测试,而不测试和经过不需要测试的PAD。本发明缩短了边界扫描链,以实现更加快速、灵活的边界扫描测试,提高测试效率。
附件下载:  (原始资料备查)

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