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一种用于FPGA内嵌IP的可测试性设计方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-177-5936-8029
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G06F30/33类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明提供了一种用于FPGA内嵌IP的可测试性设计方法,所述可测试性设计方法包括:接收设计文件和综合库,进行逻辑综合生成综合后的网表;接收所述综合后的网表,插入第一寄存器链并生成插链后的网表;接收并修改所述插链后的网表,插入第二寄存器链并生成修改后的网表;接收所述修改后的网表,生成测试向量并完成仿真。本发明的可测试性设计方法,其通过插入第二寄存器链,以改变内嵌IP的输入激励,从而使内嵌IP内的缺陷可通过DFT用例检测;且在避免对内嵌IP的电路结构做重大修改的前提下,可以明显提升内嵌IP的DFT测试覆盖率。
附件下载:  (原始资料备查)

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