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专利信息

一种半导体激光器用COS波长测试装置及测试方法【异议或纠错】

档案编号： CQ-594-2423-8131
档案文号：
专利权人： 申请人 
发布时间： 发布时间 
档案分类： 专利权 
分 类 号： 第G01M11/02;G01J9/00类
授权状态： 已授权
档案内容： 本发明涉及一种半导体激光器用COS波长测试装置及测试方法,属于激光器测试技术领域,包括热沉底座和测试架,热沉底座位于测试架下方,测试架上设置有测试针,测试针与测试架之间通过位移结构连接,测试架一侧设有积分球；热沉底座上设有带芯片热沉,利用测试针的位移对多个带芯片热沉进行扎测,本发明解决了半导体激光器用COS波长无法自动测试的问题,解决了手动模式下一人只能用一台设备的问题,现在设备十几台可以一人完成操作,节约大量的人工,而且通过驱动电机控制热沉底座动作,提高了产COS波长测试的一致性。
附件下载：  (原始资料备查)

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