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一种时钟芯片老化测试监控设备【异议或纠错】

档案编号: CQ-631-5858-0138
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/28类
授权状态: 已授权
档案内容: 本实用新型公开了一种时钟芯片老化测试监控设备,包括设备本体,所述设备本体的一侧外壁固定连接有SPXO信号源,设备本体的顶部设有第一安装槽、第二安装槽和多个检测槽,第一安装槽内安装有多个钟表缓冲器,钟表缓冲器与SPXO信号源电性连接,所述检测槽的底部内壁设有多个检测卡槽,多个检测卡槽的顶部卡接有卡板,卡板的顶部设有多个待测器件,待测器件与钟表缓冲器电性连接,所述第二安装槽内安装有FPGA监控模块,FPGA监控模块与待测器件电性连接,FPGA监控模块的一侧设有PC端连接端口,所述SPXO信号源的输入端电性连接有多个输入连接端口。本实用新型能够对多个待测芯片的输出信号同时进行监测,提高时钟芯片老化测试监控效率。
附件下载:  (原始资料备查)

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