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一种FLASH芯片检测设备及检测方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-058-1914-8618
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G11C29/56类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明涉及芯片检测领域,具体为一种FLASH芯片检测设备及检测方法。其包括机箱、芯片下料机构、送片机构、高温检测机构和驱动机构;机箱顶部具有进片通道,机箱下部具有出片通道;芯片下料机构包括环形的料带、均匀分布在料带外周面上的多个料架和用于将料带撑开并带动料带转动以使料架带动FLASH芯片由上至下穿过进片通道的转动辊机构;送片机构输送起始端与芯片下料机构底端衔接,其输送终点端位于机箱的出片通道外侧;高温检测机构包括检测箱、加热器、支架d和封堵组件,检测箱沿送片机构输送方向的两端分别设置有进片口和出片口,加热器设置在检测箱内,封堵组件共设置两组。本发明能准确的输送FLASH芯片以使其准确的进入检测箱内进行加热。
附件下载:  (原始资料备查)

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