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芯片IO电气特性自动化测试装置、方法及计算机存储介质【异议或纠错】

档案编号: CQ-060-4866-0874
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/28类
授权状态: 已授权
档案内容: 本申请提供一种芯片IO电气特性自动化测试装置、方法及计算机存储介质,涉及芯片测试技术领域,芯片IO电气特性自动化测试装置包括:控制模块、高电平输出测试模块、低电平输出测试模块、输入测试模块和第一多路复用开关;所述控制模块通过多个不同引脚分别与所述高电平输出测试模块、所述低电平输出测试模块、所述输入测试模块和所述第一多路复用开关连接;所述高电平输出测试模块、所述低电平输出测试模块和所述输入测试模块分别与所述第一多路复用开关的不同引脚连接。通过本申请芯片IO电气特性自动化测试装置能够实现对芯片VIL、VIH、VIL和VOH的自动化测试。
附件下载:  (原始资料备查)

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