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一种测量光学器件光学指标的装置【异议或纠错】

档案编号: CQ-065-1564-7090
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01M11/02;G01C25/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 本实用新型公开了一种测量光学器件光学指标的装置,包括设置于机箱内的变压器,变压器分别与散热风扇和光源板电连接;光源板依次与数显电流表和光源电连接;光源与第一保偏耦合器相连,第一保偏耦合器分别与第二保偏耦合器和单模耦合器连接;第二保偏耦合器依次与第一适配头和第一FC法兰相连,单模耦合器依次与第四适配头和第四FC法兰相连;单模耦合器的另一个输出端一端与Y波导的输入端相连,Y波导依次与第二适配头和第二FC法兰相连,Y波导的另一个输出端依次与第三适配头和第三FC法兰相连。本实用新型可避免测试过程中对于光学器件尾纤的多次熔接,同时减少了因熔接过程中熔接角度过大所带来的插损,提高的测试效率同时,提高了测量精度。
附件下载:  (原始资料备查)

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