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一种墙嵌式耐辐照宽量程复合电离室探测器及其测量方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-066-8214-3254
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01T1/185类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种墙嵌式耐辐照宽量程复合电离室探测器及其测量方法,电离室探测器包括依次连接形成一体式结构的电子学电路装置、铅屏蔽体和电离室;铅屏蔽体为一实心柱状结构,在铅屏蔽体内部贯通设置三个S形弯道,每个S形弯道用于供导线通过,导线用于将电离室和电子学电路装置数据连接。本发明解决了现有探测器中,电子学电路装置的寿命短、电离室的测量量程范围小、电离室探测器抗干扰能力差的问题。
附件下载:  (原始资料备查)

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