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专利信息

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质【异议或纠错】

档案编号： CQ-072-6442-9999
档案文号：
专利权人： 申请人 
发布时间： 发布时间 
档案分类： 专利权 
分 类 号： 第G06F30/331;G06F115/02类
授权状态： 已授权
档案内容： 本申请公开了一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：通过第一仿真硬件域执行第一测试用例,向验证平台发送握手信号,并控制待测仿真模块在第一运行状态下执行目标操作过程；通过验证平台响应握手信号,与第一测试用例并行的执行第二测试用例,随机延后时长向待测仿真模块发送第一输入信号,在目标操作过程的随机时间节点触发待测仿真模块切换至第二运行状态；通过验证平台基于待测仿真模块针对第一输入信号的输出信息,获取目标芯片中待测功能模块的验证结果。该方法能够满足目标芯片的待测功能模块在多样化使用场景下的验证需求。
附件下载：  (原始资料备查)

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