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一种面向电性能的大口径阵列天线子阵结构调整方法【异议或纠错】

档案编号： CQ-075-1446-1196
档案文号：
专利权人： 申请人 
发布时间： 发布时间 
档案分类： 专利权 
分 类 号： 第H01Q21/00;G06F17/10类
授权状态： 已授权
档案内容： 本发明公开一种面向电性能的大口径阵列天线子阵结构调整方法,包括以下步骤：S1：确定最大增益损失；S2：建立灵敏度分布矩阵；S3：计算位置公差分配权重；S4：给定初始安装公差标准；S5：计算位置公差分布矩阵；S6：生成位置误差随机样本；S7：计算天线电性能；S8：判断位置误差随机样本是否满足要求；S9：计算新的位置公差标准；S10：求最大允许结构调整量；本发明可实现以天线电性能为目标,定量给出大口径阵列天线不同区域的子阵结构调整量,使得对电性能灵敏度高的区域子阵结构精度要求严格,对电性能灵敏度低的区域适当降低结构精度要求,降低了大口径阵面的加工制造难度,提高了大口径阵列天线的调整效率,保障了阵列天线的高性能。
附件下载：  (原始资料备查)

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