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专利信息

一种dTOF芯片测试系统、dTOF芯片测试方法及相关设备【异议或纠错】

档案编号： CQ-081-7407-2834
档案文号：
专利权人： 申请人 
发布时间： 发布时间 
档案分类： 专利权 
分 类 号： 第G01R31/28类
授权状态： 已授权
档案内容： 本申请实施例提供了一种dTOF芯片测试系统、dTOF芯片测试方法及相关设备,用于自动化dTOF芯片功能,以尽可能地提高测试效率,并提高准确率。本申请实施例方法包括：预先设置目标测试项及测试顺序；按照测试顺序,对所述目标测试项逐一进行测试；当所述目标测试项需要外接测试设备进行测试时,则控制外接测试设备开启,控制dTOF芯片进入相应工作模式,当外接测试设备测试完成相应目标测试项后,从所述外接测试设备中读取测试数据；若当前测试数据不满足预设标准,则确定所述dTOF芯片为不合格芯片,不再执行后续测试；若当前测试数据满足预设标准,则继续执行后续测试；当测试项全部测试完成或中断执行,根据测试数据生成测试报告。
附件下载：  (原始资料备查)

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