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高低温环境电磁兼容测试方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-100-5642-8153
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开一种高低温环境电磁兼容测试方法,包括以下步骤:S1:将待测试设备放置于电波暗室的环境模拟装置内;S2:系统控制器控制环境模拟装置将其内部密封腔的温度调节至待测温度;S3:系统控制器控制电磁测试装置开启,电磁测试装置对设备进行EMC测试,并将EMC测试值保存于数据库内;S4:重复S2-S3,直至待测试设备在所有的待测温度下均进行了EMC测试。本发明采用在电波暗室内设置环境模拟装置的方式进行高低温测试,不破坏原有的电波暗室,不会降低电波暗室的使用寿命和原有的测试可行性。采用本发明的高低温环境电磁兼容综合试验系统对上述设备在高低温环境下进行EMC测试,更全面的对设备的抗干扰性能进行试验。
附件下载:  (原始资料备查)

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