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存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置【异议或纠错】

档案编号: CQ-108-2601-2735
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G06F11/22;G06F11/26类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置,属于存储设备技术领域。在训练存储模块时,通过识别存储模块是否通过训练,可初步判断存储模块是否存在异常,对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块,以使存储模块进行检测,避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测,通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题,提供了检测的效率,缩短了检测时间。对于主板的存储单元中包括多个存储模块时,可逐个对每个存储模块依次进行检测,防止了因某一个存储模块存在故障至少主板死机,无法准确定位故障存储模块及该故障存储模块的故障数据线的问题。
附件下载:  (原始资料备查)

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