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超透镜阵列获取方法、超透镜阵列及匀光系统【异议或纠错】

档案编号: CQ-117-5928-7453
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G02B3/00;G02B1/00;G02B27/00;G02B27/09类
授权状态: 已授权
档案内容: 本申请提供了一种超透镜阵列获取方法、超透镜阵列及匀光系统,该方法包括:按照为各超透镜配置的采样周期,确定各超透镜上用于排列微纳结构的离散位置;获取各超透镜在对应离散位置处的相位,以满足预期的匀光性能以及预期的发散角;基于各超透镜在对应离散位置处的相位,获取各超透镜对应的采样周期阈值;针对采样周期大于采样周期阈值的超透镜,优化其采样周期,并更新其对应离散位置、其在对应离散位置处的相位以及其采样周期阈值,直到其采样周期小于或等于其采样周期阈值;在针对采样周期完成优化之后,按照各超透镜在对应离散位置处的相位,获取用于对光源进行匀光的超透镜阵列。本申请实施例能够稳定高效地生成用于匀光的超透镜阵列。
附件下载:  (原始资料备查)

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