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芯片调试事件功能通用平台、方法、计算机设备及介质【异议或纠错】

档案编号: CQ-254-5181-3145
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G06F11/263;G06F11/273;G06F11/36类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明涉及芯片调试事件功能技术领域,公开了一种芯片调试事件功能通用平台、方法、计算机设备及介质,通用平台包括:调试接口驱动用于通过调试接口向外部测试芯片发送标准测试协议传输,基于标准测试协议传输对外部测试芯片调试组件拓扑结构进行扫描,得到包含调试组件类型和调试组件访问基地址的扫描结果;调试组件驱动用于基于扫描结果访问外部测试芯片调试组件的指定寄存器,对调试组件指定寄存器的指定功能进行打开或关闭,得到访问结果;事件功能测试模块用于调用访问结果对调试组件中的调试事件组件连接性进行测试。本发明当芯片升级后,只需要对芯片重新进行调试组件拓扑结构扫描,再执行事件组件测试用例即可,无需重新开发。
附件下载:  (原始资料备查)

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