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显示测试方法及系统【异议或纠错】

档案编号: CQ-261-7525-7273
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G09G3/00;G09G3/32类
授权状态: 已授权
档案内容: 本申请实施例公开了一种显示测试方法及系统,其中,显示测试方法包括:上位机向集控单元发送包含LED箱体的第一像素信息的第一测试指令;集控单元根据第一测试指令,获取显示芯片支持的最大像素信息,根据第一像素信息和最大像素信息确定显示芯片支持的LED箱体的全部拼接排列方式并发送至上位机;上位机确定至少一个待测试的拼接排列方式并发送至集控单元;集控单元根据待测试的拼接排列方式,指示显示芯片生成对应的显示信号,以使逻辑芯片根据显示信号确定待测试的拼接排列方式的显示测试结果;集控单元获取显示测试结果并发送至上位机进行显示。采用上述方法可以解决相关技术中拼接显示屏的显示测试过程效率较低且耗时较长的技术问题。
附件下载:  (原始资料备查)

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