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一种微型激光芯片老化测试系统【异议或纠错】

档案编号: CQ-428-6696-9794
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/28类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种微型激光芯片老化测试系统,涉及微型激光器测试领域,其包括上电模块、温控模块和机架模块,所述上电模块、温控模块均安装于所述机架模块上,所述温控模块包括设置于机架模块上的风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱,老化子箱内设置有微型激光芯片,所述风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱相互电连接;所述温控模块用于控制各个老化子箱的温度;所述上电模块用于为各个老化子箱中的微型激光芯片供电。整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试,且能够在多个通道集中进行老化测试,同时,操作方便、价格低廉。
附件下载:  (原始资料备查)

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