上海电气控股集团有限公司 访客留言 申请认证

信用网址: 09726617.11315.com   

有限责任公司(国有独资) 成立历史第40 

深低温叶尖间隙传感器的循环寿命试验方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-455-7283-8697
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01B21/16类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种深低温叶尖间隙传感器的循环寿命试验方法,包括步骤:步骤1:将模拟叶片(6)、第一温度传感器(7)和深低温叶尖间隙传感器(8)密封且独立封装在深冷箱(1)内;步骤2:通过温控组件设定循环寿命试验的变温过程参数,并根据变温过程参数计算低温下保温时间H-(dhold)和高温下保温时间H-(uhold);步骤3:温控组件实现深冷箱(1)内的循环升温和降温;步骤4:在深冷箱(1)内升温和降温循环进行的过程中,温控组件实时采集数据。本发明能有效控制深低温叶尖间隙传感器试验环境的升温和降温速度,真实模拟深低温叶尖间隙传感器的工作环境,确保深低温叶尖间隙传感器的性能验证结果的有效性和准确性。
附件下载:  (原始资料备查)

相关专利信息信息

评论

您需要登录后才可以发表评论,请 登录注册

打分

说明:
一、所有信息力求客观、真实:以上信息由全国各级政府职能部门、各行业协会(社团组织)、金融机构、主流媒体、信息主体或实名制下的广大消费者(包括交易对方、员工等)客观提供,不含有本征信平台的任何主观评价;
二、信息异议机制:欢迎大家对有异议的信息及时提出,我们将按照《绿盾全国企业征信管理办法》规定对异议进行核实、修正,确保客观、公平;
三、尊重发布者权益,永不"删贴":对于符合国家法律、法规和本征信平台规定的每一条信息,都将客观记录于企业信用档案,参与信用分值计算,并长期保存。

分享到:
绿盾在线
×
=合作留言=
绿盾业务合作
×
  • 马先生
    15652211315
  • 黄先生
    15652011315