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专利信息

一种逐次逼近型ADC的电容校准方法【异议或纠错】

档案编号： CQ-585-5586-7664
档案文号：
专利权人： 申请人 
发布时间： 发布时间 
档案分类： 专利权 
分 类 号： 第H03M1/10类
授权状态： 已授权
档案内容： 本发明公开了一种逐次逼近型ADC的电容校准方法,包括：以理想电容的数字权重初始化开关电容模块中所有待校准电容的差分模式数字权重和单端模式数字权重；依次获取各待校准电容的差分模式下的实际数字权重,并赋值给对应所述差分模式数字权重；依次获取各待校准电容的单端模式下的实际数字权重,并赋值给对应所述单端模式数字权重；根据所选的差分模式或单端模式,将各所述差分模式数字权重或各所述单端模式数字权重赋值给各实际最终数字权重；对逐次逼近型ADC的模拟输出信号使用各实际最终数字权重按位相加,得到数字输出信号。本发明能够实现电容的自校准,不需要额外的校准电容阵列。
附件下载：  (原始资料备查)

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