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专利信息

一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法【异议或纠错】

档案编号： CQ-117-2841-9922
档案文号：
专利权人： 申请人 
发布时间： 发布时间 
档案分类： 专利权 
分 类 号： 第H03M7/30;H03M1/10类
授权状态： 已授权
档案内容： 本发明公开了一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法,涉及数据压缩技术领域,其技术方案要点是一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法,所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法包括以下步骤：通过对周期性的正弦波在一个周期内进行多点采样和模拟数字转换的方式,能够根据数据宽度b-i对D-i与D-(i-1)的差值进行有效位截断；得到待存储数据；从而能够在待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时,将待存储数据打包并储存。这样的数据压缩方法节省了采样点的占用空间,从而节省了待存储数据所需的储存空间,进而能够在SRAM储存空间一定情况下,储存ADC转换的更多数据。
附件下载：  (原始资料备查)

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