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一种基于超图的集成电路的多级聚类方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-056-7923-5935
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G06F30/331;G06F18/2323类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种基于超图的集成电路的多级聚类方法,包括步骤1、获取第一超图;步骤2、基于预设方式,根据第一预设顺序对每个所述第一节点进行处理以得到第一聚类结果;步骤3、对所述第一聚类结果进行去重处理得到第二聚类结果;步骤4、对所述第二聚类结果进行聚类处理得到第二超图;步骤5、对步骤4得到的所述第二超图循环执行步骤2和步骤4,直至步骤4所得到的所述第二超图的节点数量与所述第一超图中的节点数量的比值满足第一预设阈值,以得到第三超图;步骤6、基于最大连接度聚类方法,根据所述第三超图得到最终的聚类结果。本发明的聚类方法能够实现更高质量的聚类结果,可以提高聚类速度以及实现超图更加粗粒化的过程。
附件下载:  (原始资料备查)

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