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一种低温探针测试设备【异议或纠错】

档案编号: CQ-069-1156-0623
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 本申请涉及温度测试技术的领域,尤其涉及一种低温探针测试设备,包括真空仓、承载机构、探针机构、观察机构和调节机构;真空仓、探针机构以及观察机构均安装于承载机构上表面;真空仓设置有第一通孔;探针机构外周侧设置有隔绝管,隔绝管覆盖第一通孔,真空仓内部设置有屏蔽仓,屏蔽仓设置有第二通孔,然后屏蔽仓内部设置有样品台;承载机构安装有制冷装置,制冷装置外周侧局部包覆有延展管,制冷装置上表面连接有铜台,铜台与样品台之间设置第一柔性铜条,真空仓上表面设置有观察孔,观察机构通过观察孔观察样品,调节机构设置于承载机构的一侧,用于控制所述真空仓的真空状态以及控制所述真空仓内部的温度,本申请能提高检测结果的精确程度。
附件下载:  (原始资料备查)

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