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股份有限公司(外商投资、未上市) 成立历史第21 

一种芯片调试方法、装置、电子设备、存储介质【异议或纠错】

档案编号: CQ-106-3340-4365
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G06F11/36;G06F8/61;G06F3/0488类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明实施例提供了一种芯片调试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质,该方法包括:获取触摸函数,将触摸函数发送至下位机;通过下位机将触摸函数转换为触摸功能指令,并将触摸功能指令烧录至芯片,触摸功能指令用于指示芯片执行相应的触摸功能;通过下位机监测芯片执行触摸功能指令产生的触摸数据;根据触摸数据对所述芯片进行调试。通过下位机实时监测所述芯片的触摸数据,并根据该触摸数据在上位机对芯片进行调试,可以得到满足用户需求的触摸灵敏度,增加了调试功能的多样性;本发明通过上位机来对芯片实时进行调试,减少了人力的支出,提高了芯片调试的效率。
附件下载:  (原始资料备查)

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