普冉半导体(上海)股份有限公司 访客留言 申请认证

信用网址: 123103340.11315.com   

股份有限公司(上市、外商投资企业投资) 成立历史第

在晶圆测试过程中检测电子位图中坐标偏移的方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-120-8727-4993
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第H01L21/66;G01R31/28类
授权状态: 已授权
档案内容: 一种在晶圆测试过程中检测电子位图中坐标偏移的方法,将每道晶圆测试后产生的所有电子位图叠加形成一张叠加电子位图,自动统计叠加电子位图上的叠加测试结果,当叠加测试结果中显示至少一个芯片的前道测试结果为不良品,而后道测试结果为良品,和/或当叠加测试结果中显示了至少一道测试结果,同时至少一个芯片缺少了至少一道测试结果,则判断电子位图出现了坐标偏移。本发明在晶圆测试过程中及时发现并阻止电子位图坐标偏移现象的发生,消除了测试厂的隐患和风险,提高了晶圆测试后的产品良率,大大降低了封装厂挑错芯片的可能性,减少了晶圆损失,减小了晶圆流入市场的风险,提高了量产的合格率。
附件下载:  (原始资料备查)

相关专利信息信息

评论

您需要登录后才可以发表评论,请 登录注册

打分

说明:
一、所有信息力求客观、真实:以上信息由全国各级政府职能部门、各行业协会(社团组织)、金融机构、主流媒体、信息主体或实名制下的广大消费者(包括交易对方、员工等)客观提供,不含有本征信平台的任何主观评价;
二、信息异议机制:欢迎大家对有异议的信息及时提出,我们将按照《绿盾全国企业征信管理办法》规定对异议进行核实、修正,确保客观、公平;
三、尊重发布者权益,永不"删贴":对于符合国家法律、法规和本征信平台规定的每一条信息,都将客观记录于企业信用档案,参与信用分值计算,并长期保存。

分享到:
绿盾在线
×
=合作留言=
绿盾业务合作
×
  • 马先生
    15652211315
  • 黄先生
    15652011315