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一种3C-SiC单晶体的制备方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-250-6489-1576
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第C30B25/18;C30B29/36;C30B33/08类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明提供了一种3C-SiC单晶体的制备方法,涉及半导体材料制备技术领域,所述制备方法先在低于Si熔点的一定温度下,采用化学气相沉积在Si单晶基底上生长3C-SiC单晶初始层,接着将3C-SiC单晶初始层与4H-SiC单晶基底相接触进行键合,去除Si单晶基底,进一步在高于Si熔点的一定温度下,采用化学气相沉积在3C-SiC单晶初始层上快速生长3C-SiC单晶加厚层。本发明所述制备方法解决了在Si单晶基底上生长3C-SiC单晶体速度慢且难以长厚的问题,3C-SiC单晶的生长速度可达到200μm/h,制备得到的3C-SiC单晶体的厚度≥1mm,且(111)峰的半高宽小于50arcsec。
附件下载:  (原始资料备查)

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