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专利信息

芯片在位检测电路和芯片在位检测方法【异议或纠错】

档案编号： CQ-251-4525-8866
档案文号：
专利权人： 申请人 
发布时间： 发布时间 
档案分类： 专利权 
分 类 号： 第G01R31/71类
授权状态： 已授权
档案内容： 本公开涉及一种芯片在位检测电路和芯片在位检测方法。该检测电路包括：分压装置,配置有分压输入端和多个分压输出端,分压输入端用于接收预设电压信号,分压输出端对应连接至芯片的待测管脚,用于根据接收到的预设电压信号向待测管脚提供测试电压信号；主控装置,配置有检测端,检测端连接至分压输入端与分压输出端之间,用于检测待测管脚的测试电压信号,根据测试电压信号判定待测管脚的连接状态。实现同时判定芯片的多个待测管脚的连接状态,快速有效判定芯片安装状态的目的。
附件下载：  (原始资料备查)

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