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一种内存模块的电源芯片功耗测试工装【异议或纠错】

档案编号: CQ-254-8087-3573
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/28;G01R1/04;G01R21/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 本实用新型公开了一种内存模块的电源芯片功耗测试工装,该测试工装包括:测试基板;芯片测试座,安装于测试基板上;应用于内存模块的电源管理单元芯片,可拆卸安装于芯片测试座上,电源管理单元芯片配置有多路降压式变换电路;上位机,通过一通信组件与电源管理单元芯片连接,以对电源管理单元芯片进行调配;电子负载,与每一降压式变换电路连接,用于模拟内存负载。本实用新型通过采用芯片测试座来使电源管理单元芯片可拆卸地安装测试,实现对于电源管理单元芯片的独立测试,还通过上位机对电源管理单元芯片中各项降压式变换电路的开关频率进行设置,如此可以实现对于电源管理单元芯片中各项降压式变换电路的功耗及开关效率的精准测试。
附件下载:  (原始资料备查)

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