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一种P型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试系统及方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-268-5657-9182
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/00;G01R31/12类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明提供一种P型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试系统,其包括:控制模块用于提供第二控制信号,并将第二控制信号传输至运放模块;控制模块用于输出电压信号至第一开关模块;运放模块用于对第二控制信号进行处理;第一开关模块用于根据电压信号控制自身的开启或关闭;第二开关模块用于将处理后的第二控制信号传输给测试模块;测试模块用于连接待测P型MOSFET,并测试待测P型MOSFET的线性区SOA抗冲击能力;采样模块用于采集自身电压信号;第二电源模块用于根据开关控制信号控制自身的打开或关闭,并接收第一数据信号,并根据第一数据信号输出第二数据信号至测试模块。本发明还提供一种P型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试方法。
附件下载:  (原始资料备查)

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