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一种交互式高速全自动芯片测试机及交互方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-271-4069-7835
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01R31/26;G01R1/04;G01R35/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种交互式高速全自动芯片测试机及交互方法,本发明的技术方案提供一种交互式高速全自动芯片测试机,包括交互测试工位,其上设有交互X轴平移机构、检测机构、两组芯片承载机构以及位于芯片承载机构上方的三组视觉定位机构,且三组所述视觉定位机构呈一字排开,中间的所述视觉定位机构正下方为测试工位,且所述检测机构设于所述测试工位上。本发明通过双直线式测试台交互工作,多线程工作,一个工位进行芯片测试,另一个工位对芯片进行供给定位,形成交互式的芯片测试,且两个芯片承载机构之间的间距短,避免相对风对芯片承载机构以及芯片的温度影响,减小芯片的表面温度波动,提高生产测试效率,并能保证测试数据的稳定可靠。
附件下载:  (原始资料备查)

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