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芯片测试排列设备【异议或纠错】

档案编号: CQ-271-4072-0550
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第B07C5/02;B07C5/344;B07C5/36类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明公开了一种芯片测试排列设备,涉及芯片加工设备技术领域,芯片测试排列设备包括机械手组件、测试组件、视觉定位组件和下料组件。机械手组件用于拾取巴条并带动巴条移动;测试组件用于固定机械手移送过来的巴条并测试巴条的性能指标。视觉定位组件包括间隔设置的第一视觉相机和第二视觉相机,第一视觉相机和第二视觉相机均电性连接机械手组件,第一视觉相机位于测试组件的上方,用于配合机械手组件将巴条放置在测试组件上。下料组件设于第二视觉相机的下方,第二视觉相机用于控制机械手组件将测试完毕的巴条放置并排列在下料组件,以使下料组件上的多个巴条平行,从而在后续的切割工序中,能够一次性切割多个巴条,提高了工作效率。
附件下载:  (原始资料备查)

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