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超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-281-2656-5485
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G01J3/28;G01J3/02;G02B1/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 提供一种超表面器件、光谱测量器件、光谱仪和光谱测量方法,其中超表面器件包括:透射型超表面,所述透射型超表面被划分成多个超表面单元;其中所述多个超表面单元中的每个超表面单元对入射光光谱透过率的调制是唯一的,所述多个超表面单元的透射谱两两正交。根据本发明技术方案,超表面对光谱编码精准,且超表面加工方式为半导体兼容工艺,更适宜大批量量产。
附件下载:  (原始资料备查)

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