专利信息
| 档案标题 | 档案分类 | 档案性质 | 发证日期 |
|---|---|---|---|
| 一种光场芯片及光场相机 | 专利权 | 良好信息 | 2023-07-21 |
| 基于深度学习的半导体芯片金线分割方法及系统 | 专利权 | 良好信息 | 2023-05-02 |
| 基于光场相机的三维成像方法和系统及三维成像测... | 专利权 | 良好信息 | 2023-04-28 |
| 一种色差检测方法、装置、设备和存储介质 | 专利权 | 良好信息 | 2023-04-04 |
| 一种成像装置和成像方法 | 专利权 | 良好信息 | 2023-03-07 |
| 一种校正方法、终端设备及存储介质 | 专利权 | 良好信息 | 2023-01-20 |
| 一种成像装置 | 专利权 | 良好信息 | 2022-11-22 |
| 扩展现实设备检测系统及产线 | 专利权 | 良好信息 | 2022-08-19 |
| 斜孔倾斜角度的获取方法及系统 | 专利权 | 良好信息 | 2022-07-08 |
| 表面目标的轮廓获取方法及系统、3D信息获取方... | 专利权 | 良好信息 | 2022-07-05 |
| 基于光场相机和二维相机的芯片检测系统及检测产... | 专利权 | 良好信息 | 2022-07-01 |
| 基于光场相机的缺陷分层检测方法和系统及检测产... | 专利权 | 良好信息 | 2022-07-01 |
| 基于光场相机的三维成像方法和系统及三维成像测... | 专利权 | 良好信息 | 2022-06-17 |
| 用于光扫描仪的位姿调整装置及光扫描仪 | 专利权 | 良好信息 | 2022-06-14 |
| 光学测量装置 | 专利权 | 良好信息 | 2022-05-24 |
| 光学被测物位姿调整平台 | 专利权 | 良好信息 | 2022-05-24 |
| 精密零件测量装置及光学测量装置 | 专利权 | 良好信息 | 2022-05-24 |
| 光场镜头组件、光场镜头、光场成像装置及系统 | 专利权 | 良好信息 | 2022-05-13 |
| 光场成像系统以及通过光场成像系统采集光场信息... | 专利权 | 良好信息 | 2022-01-07 |
| 光场成像系统以及利用光场成像系统采集光场信息... | 专利权 | 良好信息 | 2022-01-07 |
更多>>视频联播
京公网安备：11010202001315
商务合作