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一种用于单光子检测芯片的时钟系统及其校准方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-129-2830-0553
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G04G5/00类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明涉及集成电路设计技术领域,具体是一种用于单光子检测芯片的时钟系统及其校准方法。设计一个温度系数可调的RC振荡器,而后将该RC振荡器接入外部ADC和MCU,并通过I2C选定温度校准模式;通过I2C调整电阻比例设定值,当电阻比例设定值满足Vs=Vs0,或者偏差在既定范围内时,校准完成,之后外部MCU将校准结果写入OTP中;复用上述频率局部单调且步进线性的RC振荡器。本发明采用与频率成线性关系的可调参数结构的振荡器,可保证时钟校准的精度,在用于测距芯片中PLL的基准时钟时,稳定性好,精度高,而且可以节省芯片面积和复杂度,并保证较宽的频率范围。
附件下载:  (原始资料备查)

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