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一种硅光三维集成光谱仪及其光学芯片的制备方法【异议或纠错】

档案编号: CQ-521-1827-0987
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G02B6/12;G02B6/122类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明提供了一种硅光三维集成光谱仪及其光学芯片的制备方法,涉及光谱仪技术领域,能够通过将三维光学耦合器阵列置于硅光芯片之上,节省大量的芯片面积,提高集成度,且使直接照射采光成为可能,提高耦合效率;该光谱仪包括由若干三维光学耦合器组成的耦合器阵列以及由若干光电探测器组成的光电探测器阵列;所述三维光学耦合器包括依次耦合连接的底层硅光芯片和竖直微环(VμRC),用于将波长与其共振耦合波长匹配的入射光耦合进耦合器中并通过底层硅光芯片的硅光波导传输给对应的光电探测器;所述光电探测器用于实现对入射光光谱的探测;所述耦合器阵列中不同三维光学耦合器的共振耦合波长呈渐变设计。
附件下载:  (原始资料备查)

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