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芯片版图的设计规则检查方法、系统及存储介质【异议或纠错】

档案编号: CQ-248-5801-3817
档案文号:
专利权人: 申请人 
发布时间: 发布时间 
档案分类: 专利权 
分 类 号: 第G06F30/398类
授权状态: 已授权
档案内容: 本发明揭示了一种芯片版图的设计规则检查方法、系统及存储介质,所述方法包括:在版图设计软件中生成版图文件,所述版图文件中包括若干栅极金属;采用判断函数遍历所有栅极金属,判断栅极金属的断栅情况及断栅种类,所述判断函数包括主判断函数和限制函数;输出违反结果,所述违反结果包括判断函数、断栅位置及断栅种类。本发明可以通过判断函数在版图设计软件中对版图文件的断栅情况和种类进行快速检查,避免了因断栅导致流片过程中断的情况,提高了流片成功率,缩短了流片时间,可以广泛应用于各种类型的芯片版图检查。
附件下载:  (原始资料备查)

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