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股份有限公司(非上市、自然人投资或控股) 成立历史第11 

专利信息
档案标题 档案分类 档案性质 发证日期
一种高温老化测试插座的循环结构 专利权 良好信息 2024-07-16
一种高温老化测试方法 专利权 良好信息 2024-07-12
一种转接探针测试方法 专利权 良好信息 2024-07-05
一种晶圆激光切割机及晶圆驱动方法 专利权 良好信息 2024-06-25
一种高温老化测试插座调节方法 专利权 良好信息 2024-06-25
柔性线路板测试系统及测试方法 专利权 良好信息 2024-05-31
芯片测试转接器及测试方法 专利权 良好信息 2024-05-03
一种芯片测试插座 专利权 良好信息 2024-04-16
一种转接探针测试装置 专利权 良好信息 2024-03-19
一种ATE探针漏装检测方法 专利权 良好信息 2024-03-19
一种ATE探针漏装检测装置及其治具板 专利权 良好信息 2024-03-19
一种ATE探针预组装检查方法 专利权 良好信息 2024-01-26
一种ATE探针预组装检查台及其提示台 专利权 良好信息 2024-01-19
芯片老化测试夹具 专利权 良好信息 2024-01-09
一种高温老化测试插座调节方法 专利权 良好信息 2023-10-27
一种高温老化测试插座调节结构 专利权 良好信息 2023-10-27
片上芯片高温老化测试插座控制系统及控制方法 专利权 良好信息 2023-10-10
一种高温老化测试插座调节结构 专利权 良好信息 2023-09-12
一种兼容性高的视觉检测仪平台治具 专利权 良好信息 2023-08-29
芯片老化测试台 专利权 良好信息 2023-07-14
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